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我国成功研制新型X射线荧光光谱仪破依赖进口格局

来源: 作者:胡利娟 2018年01月10日
[导读]  1月10日,北京安科慧生科技有限公司对外发布,由该公司科技人员经过三年的科研攻关,自主研发成功的新型X射线荧光光谱仪PHECDA-MINI,将成为解决污染场地污染物快速筛查和污染事故应急监测的关键突破口。其不仅可以大幅减少工作量,还能降低监测成本

  

  中国科技财富网讯(记者 胡利娟)近十年,我国重金属污染事件呈高发态势,因土壤重金属污染进而带入植物体或浸入地下水体被人们食用后,会对身体健康带来不利影响。

  土壤污染防治需检测先行,然而,对土壤二十多项污染物的分析检测工作庞大且繁琐。那么,该如何快速有效筛查出土壤重金属污染?

  1月10日,北京安科慧生科技有限公司对外发布,由该公司科技人员经过三年的科研攻关,自主研发成功的新型X射线荧光光谱仪PHECDA-MINI,将成为解决污染场地污染物快速筛查和污染事故应急监测的关键突破口。其不仅可以大幅减少工作量,还能降低监测成本。

  据全国土壤污染状况调查结果显示,重金属类污染物在各地土壤中普遍检出,全国土壤总超标率为16.1%,其中无机污染物超标点数占82.8%。

  因此,土壤重金属现场快速筛查,成为国内外各大分析仪器厂商竞争的方向。

  但是,由于土壤重金属的分析检测仪器,长期依赖进口仪器设备,已成为欧美分析仪器企业的主要利润增长点。

  特别是X射线荧光光谱仪,这是土壤中重金属元素分析的手段之一,而其中的双曲面弯晶,又是X射线荧光光谱仪性能提升的关键技术,但该技术长期被美国一家分析仪器公司掌握和封锁。

  为此,北京安科慧生科技有限公司自2015年开始进行科研攻关,如今,已成功研制出X射线荧光光谱仪的核心部件——全聚焦型双曲面弯晶,成为世界上第二家拥有此项技术的公司,并依据这项核心技术,成为世界上首家成功研制出便携式X射线荧光光谱仪,以便进行土壤重金属污染限值检测。

  据了解,全聚焦型双曲面弯晶是X射线荧光分光和衍射的核心部件,该技术的采用不仅可以大幅提升X射线荧光光谱仪性能,还能将X射线光管出射谱单色化并聚焦于样品测试点。同时,又降低散射线背景,提升元素荧光信号强度,使X射线荧光光谱仪分析灵敏度大幅提升,达到分析微量或痕量样品的能力。

  “这项技术的研发成功,将X射线荧光应用领域扩展到食品安全、环境保护等行业,改变了传统的分析手段,提升实验室分析能力。”该公司负责人表示,该光谱仪问世后,不仅受到业内广发关注,现已与国家环境部、农业部等环境部门开展合作。

  

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